應用案例 | 3D線激光SIM卡托平面度檢測，讓你信號滿滿！

SIM卡托多選用不銹鋼片或者合金材料加工而成，來確保SIM卡托在實際使用過程中具有足夠的堅韌度。但在生產過程中由于一些因素，可能會出現SIM卡托表面不平整或者缺陷，若未能及時發現，在裝配成品后會影響產品的使用性能。

利用三維線激光掃描儀，來檢測SIM卡托是否缺陷或者損壞，采用非接觸方式，無需擔心劃傷目標物，在高速、精細和重復的檢測過程中也更加可靠，與傳統的人工檢測方法相比，具有的優越性。

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三維線激光掃描儀

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激光三角反射原理

1.三維輪廓掃描儀發射線激光，測量物體被照射后表面形成漫反射，反射光通過 CMOS 芯片進行接收，通過計算反射光在芯片的位置，可以得到被測物體的高度段差和形狀信息。

2.根據被測物體的大小和精度要求，可針對 LS 系列靈活選型，搭設簡便，易于集成。

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產品特點

1.高精度CMOS芯片，橫向輪廓數據高3840點；

2.藍色半導體激光，大限度保證穩定檢測；

3.優異的算法處理，集成動態曝光，動態3D輪廓算法等多項專有技術；

4.IP67等級防護，適應各種復雜應用環境；

5.靈活的視場寬度，各種型號可供選擇。

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檢測案例

檢測需求：

1.精度要求：平面度重復性0.01mm以內；

2.速度要求：2.5s/pcs以內。

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應用選型

方案采用wonsor一體式3D激光輪廓儀LS-4020，測量范圍±2.3mm，基準距離為20mm，Z軸重復精度可達0.4μm。采用非接觸方式，無需擔心劃傷目標物；通過使用傾斜補正功能消除因目標物的 位置偏移所導致的誤差。

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檢測結果

相機水平安裝，掃描卡托測量32組數據，重復性為0.005mm。

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客戶獲益

1.三維線激光掃描儀處理圖像速度快，效率高，檢測精度滿足項目需求；

2.核心芯片自主研發，高性價比，節約客戶成本；

3.一體式3D激光輪廓儀LS-4020高精度穩定測量，保證客戶生產品質管控。

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